22IIM33 - Metode karakterizacije materijala
Specifikacija predmeta | ||||
---|---|---|---|---|
Naziv | Metode karakterizacije materijala | |||
Akronim | 22IIM33 | |||
Studijski program | Inženjerstvo materijala | |||
Modul | ||||
Nastavnik (predavač) | ||||
Nastavnik/saradnik (vežbe) | ||||
Nastavnik/saradnik (DON) | ||||
Broj ESPB | 5.0 | Status predmeta | obavezan predmet | |
Uslovljnost drugim predmetom | za pohađanje: Osnovi inženjerstva materijala; za polaganje: Procesiranje i primena keramičkih materijala | Oblik uslovljenosti | ||
Ciljevi izučavanja predmeta | Cilj ovog predmeta je da omogući studentima upoznavanje sa metodama karakterizacije materijala kao i sa najčešće korišćenim instrumentalnim metodama hemijske analize materijala. Cilj je takođe da se upoznaju sa metodama za prećenje strukturnih i mikrostukturnih promena koje se dešavaju tokom procesiranja ovih materijala. | |||
Ishodi učenja (stečena znanja) | Predmet upoznaje studente sa osnovnim metodama karakterizacije materijala i polaznih sirovina, odnosno jedinjenja za njihovu sintezu. U toku kursa studenti će raditi eksperimentalne vežbe iz oblasti karakterizacije materijala. | |||
Sadržaj predmeta | ||||
Sadržaj teorijske nastave | Uvod u metode karakterizacije materijala, Principi spektralne analize, UV VIS spektroskopija, Atomska apsorpciona spektroskopija, Indukovano spregnuta plazma, Transmisiona i refleksiona FTIR analiza materijala, Raman analiza materijala, Analiza materijala rendgenskom difrakcijom, Diferencijalno-termijska metoda karakterizacije materijala, Termogravimetrijska metoda karakterizacije materijala, Termomikroskopska metoda, Određivanje raspodele i veličine čestica, Određivanje specifične površine, Određivanje raspodele i veličine pora, Skenirajuća elektronska mikroskopija sa EDS-om, Transmisiona elektronska mikroskopija, AFM, ispitivanjem mikrostrukture metalnih materijala primenom svetlosne mikroskopije. | |||
Sadržaj praktične nastave | AAS analiza materijala, FTIR analiza materijala, Analiza materijala rendgenskom difrakcijom, Infracrvena spektroskopska analiza materijala, Termomikroskopska metoda, DSC i TGA karakterizacija, Određivanje raspodele i veličine čestica, Određivanje specifične površine, Skenirajuća elektronska mikroskopija, EDS metoda karakterizacije, Transmisiona elektronska mikroskopija, AFM. | |||
Literatura | ||||
| ||||
Broj časova aktivne nastave nedeljno tokom semestra/trimestra/godine | ||||
Predavanja | Vežbe | DON | Studijski i istraživački rad | Ostali časovi |
3 | 1 | |||
Metode izvođenja nastave | Predavanja, eksperimentalne vežbe. | |||
Ocena znanja (maksimalni broj poena 100) | ||||
Predispitne obaveze | Poena | Završni ispit | Poena | |
Aktivnosti u toku predavanja | Pismeni ispit | |||
Praktična nastava | 30 | Usmeni ispit | 70 | |
Projekti | ||||
Kolokvijumi | ||||
Seminari |