22D40 - Fizičko-hemijske metode karakterizacije površine
Specifikacija predmeta | ||||
---|---|---|---|---|
Naziv | Fizičko-hemijske metode karakterizacije površine | |||
Akronim | 22D40 | |||
Studijski program | Metalurško inženjerstvo,Hemijsko inženjerstvo | |||
Modul | ||||
Nastavnik (predavač) | ||||
Nastavnik/saradnik (vežbe) | ||||
Nastavnik/saradnik (DON) | ||||
Broj ESPB | 6.0 | Status predmeta | izborni predmet | |
Uslovljnost drugim predmetom | Oblik uslovljenosti | |||
Ciljevi izučavanja predmeta | Cilj predmeta je da studente upozna sa osnovama fizičkih i hemijskih principa u odabranim savremenim spektroskopskim i mikroskopskim metodama karakterizacije površine. Predmet je namenjen svim studentima koji se bave materijalima, jer će naučiti kako da odrede morfologiju površine, hemijski sastav i raspodelu elemenata i hemijskih grupa na površini, vrstu i jačinu hemijskih veza koje se uspostavljaju na granici faza, kao i funkcionalnim svojstvima površine. Takođe, cilj je da student stekne osnovna znanja gde se ove tehnike primenjuju (ispitivanje biomaterijala, polimernih, keramičkih i metalnih materijala, u katalizi, nanomaterijalima, u zaštiti, koroziji, tribologiji, farmaceutskom inženjerstvu, ......). | |||
Ishodi učenja (stečena znanja) | Studenti su stekli osnovna teorijska saznanja o primeni savremenih tehnika u karakterizaciji površina. Naučili su da odaberu odgovarajuću metodu za karakterizaciju datog materijala, da obrade rezultate i lako se obuče za rad na određenom instrumentu i primene naučenu metodu. | |||
Sadržaj predmeta | ||||
Sadržaj teorijske nastave | • Uvod u analizu površine: površinska osetljivost i specifičnost površine • Rad u komorama visokog vakuuma, vrste vakuuma • Spektroskopske tehnike u karakterizaciji površina: osnove i primena. • XPS -fotoelektronska spektroskopija H-zraka (X-ray Photoelectron Spectroscopy). • AES – Ožeova elektronska spektroskopija (Auger Electron Spectroscopy). • UPS -ultraljubičasta fotoelektronska spektroskopija (Ultraviolet Photoelectron Spectroscopy). • LEIS- spektroskopija odbijenih jona plemenitog gasa niske energije (Low energy ion scattering). • LEED - difrakcija elektrona niske energije (Low Energy Electron Diffraction) • TPD -temperaturno programirana desorpcija (Temperature Programmed Techniques). • Sondna mikroskopija, osnove i primena. • AFM -mikroskopija atomskih sila (atomic force microscopy). • STM -skenirajuća tunelirajuća mikroskopija (scanning tunneling microscopy). • Primeri primene raznih metoda karakterizacije. | |||
Sadržaj praktične nastave | ||||
Literatura | ||||
| ||||
Broj časova aktivne nastave nedeljno tokom semestra/trimestra/godine | ||||
Predavanja | Vežbe | DON | Studijski i istraživački rad | Ostali časovi |
3 | ||||
Metode izvođenja nastave | Predavanja, demonstracija rada AFM / STM, seminarski rad i konsultacije | |||
Ocena znanja (maksimalni broj poena 100) | ||||
Predispitne obaveze | Poena | Završni ispit | Poena | |
Aktivnosti u toku predavanja | Pismeni ispit | |||
Praktična nastava | Usmeni ispit | 70 | ||
Projekti | ||||
Kolokvijumi | ||||
Seminari | 30 |